期刊信息
曾用名:《液晶通讯》与《发光快报》合并
主办:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国物理学会液晶分会
ISSN:1007-2780
CN:22-1259/O4
语言:中文;
周期:月刊
影响因子:1.165
被引频次:27347
数据库收录:
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期刊热词:
无线电电子学
基于ZYNQ与YOLO26n的PCB缺陷检测
【作者】网站采编
【关键词】
【摘要】:研究背景与问题 印制电路板(Printed Circuit Board, PCB)作为电子设备中的核心组成部分,其质量直接影响电子产品的性能与寿命。随着电子产品的小型化、复杂化,PCB的缺陷检测成为一项研究背景与问题
印制电路板(Printed Circuit Board, PCB)作为电子设备中的核心组成部分,其质量直接影响电子产品的性能与寿命。随着电子产品的小型化、复杂化,PCB的缺陷检测成为一项关键的技术挑战。传统的PCB缺陷检测方法主要依赖于人工检测,不仅效率低下,而且容易受到主观因素的影响。此外,随着智能检测技术的快速发展,如何在高计算量、大存储开销和受限功耗的条件下实现高效的PCB缺陷检测,成为当前研究的热点问题。
研究方法
针对上述问题,本文提出了一种基于ZYNQ可编程系统级芯片(System on Chip, SoC)平台与YOLOv3轻量化目标检测算法(YOLO26n)的PCB缺陷检测方法。首先,通过ZYNQ平台的高性能处理能力,实现了实时图像采集和预处理;其次,采用YOLO26n算法对PCB表面缺陷进行检测,该算法在保持较高检测精度的同时,显著降低了计算量和存储需求;最后,结合深度学习技术,对检测到的缺陷进行分类和分析,为PCB缺陷的自动检测和评估提供了技术支持。
核心结果
实验结果表明,所提出的基于ZYNQ与YOLO26n的PCB缺陷检测方法具有较高的检测准确率和实时性。与传统方法相比,该方法在计算量、存储开销和功耗方面均有所降低,尤其是在实时性方面表现出显著优势。通过在多种PCB缺陷图像上的测试,该方法的缺陷检测准确率达到了95%以上,满足实际生产需求。
结论与意义
本文所提出的基于ZYNQ与YOLO26n的PCB缺陷检测方法,有效解决了PCB缺陷检测中计算量大、存储开销高及功耗受限等问题。该方法具有较高的检测准确率、实时性和实用性,为PCB生产过程中的缺陷检测提供了新的技术路径。同时,本研究的成果对于推动PCB检测技术的发展,提高电子产品的质量与可靠性具有重要的理论意义和应用价值。
文章来源:《液晶与显示》 网址: http://www.yjyxs.cn/qikandaodu/2026/1027/334.html
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